linhas de pesquisa

1) Produção de ligas cristalinas e amorfas por moagem mecânica.

2) Análise estrutural de estruturas cristalinas por difração de raios-x e método de Rietveld.

3) Determinação de estruturas amorfas por difração de raios-x, EXAFS e difração de nêutrons.

4) Determinação de efeitos de anarmonicidade e dados térmicos por EXAFS em função da temperatura.

5) Modelagem estrutural de ligas amorfas pelo método de Monte Carlo Reverso.

6) Determinação de propriedades ópticas de semicondutores.

7) Determinação de propriedades vibracionais por espectroscopia Raman.

8) Determinação de propriedades térmicas por calorimetria de varredura diferencial.

9) Determinação de propriedades fototérmicas utilizando efeito fotoacústico.

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